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高精度非接触测厚仪
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高精度非接触测厚仪

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商品描述


QG-C系列高精度非接触式厚度测试仪是专业检测薄膜、薄片等材料的厚度性能,适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片,钢板、木板、玻璃等各种材料的厚度测量。


产品特点:

1.  非接触测量:对产品无损伤,有效避免了人为因素造成的检测误差;

2.   最小化测量盲区:同轴式测量配置,避免了激光三角传感器的角度限制,缩小测量盲区,适合复杂细微结构(如深沟槽结构等)的测量;

3.  亚微米精度的尺寸及位移复现能力:系统能够实现最小5.48μm的成像光斑,同时提高测量线性度;

4.  高灵敏度光学非接触测量:定制开发的杂散光抑制优化光谱仪以及高亮度彩色激光光源,都能够大幅提高传感器的测量灵敏度,

  能够对表面返回的极弱的光强(如薄膜等透明物体)完成测量;

5.  多膜层/多层玻璃测厚能力:适合各种材料的测量,并能确保对不同材料的测量性能,同时支持多膜层/胶合玻璃的多层厚度测量;

6.  抗干扰模块化探头:安装于测量现场的探头是纯光学器件,通过光纤与控制器连接,因此可以避免现场电磁干扰对测量精度的影响。

 探头口径可以设计到Φ4mm以下,适合并排布置进行多个关键位置的测量。同时探头可以设计到±65°的测量角度,满足曲面玻璃的测量。


在线测厚仪部分参数:




备注:产品检测探头上面只是部分展示,有多种型号,以适用不同材质产品及不同精度要求,设备根据客户检测产品及相关检测要求定制。

          前期可提供一到二次免费样品检测,免费出具检测方案,欢迎来电咨询。

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